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Minitest 2100測厚儀F1.5探頭

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Minitest 2100測厚儀F1.5探頭

 

 

Coating thickness gauge MiniTest 2100

測量高精度和重現性
讀數的存儲統計功能

耐磨探頭用于多用途

德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。

探頭型號:

FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度


 
F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

 
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層

 
F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


 
F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

 
F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

 
N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

 
N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 
N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

 
N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

 
N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

 

 

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