QuaNix 4500測厚儀

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QuaNix 4500測厚儀

測量原理

高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

QuaNix 4500測厚儀特點：

1.只需調零、無需校準
2.Fe/NFe兩用探頭
3.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀一體化設計
4.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀自動開關機

QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀技術參數
型號	4200	4500	1200	1500	7500	keyless
基體	Fe	Fe/NFe	Fe	Fe/NFe	Fe、NFe、Fe/NFe	Fe/NFe
探頭形式	一體				一體、分體	無線分體
顯示	LCD數字顯示
測量范圍	0－3000μm	Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm	0－2000μm	0－5000μm	0－2000μm 0－5000μm	0－5000μm
測量精度	0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
顯示精度	0.1μm		0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作溫度	－10 －＋60℃
溫度補償	0－50℃
存儲	－			1500M型	7500M型	keylessM型
				3900個測量值，999個數據組
數據傳輸	－			RS232打印、電腦
統計功能	－			平均值、zui大值、zui小值、標準偏差
超限報警	－					上下限
zui小基體	10mm×10mm
zui小曲率	凸、凹半徑：3mm/25mm		凸半徑：5mm，凹半徑：25mm
zui薄基體	Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
電源	5號電池2節		9V堿性電池1節			5號電池2節
重量	110g		130g		150g	130g
尺寸	110×60×27mm		166×64×34mm		110×60×24mm	110×62×22mm